特點與優勢
● 2套X射線源，測試能力更全面強大
● 配備平板探測器和線陣探測器，滿足多樣化測試需求
● 通過螺旋掃描、偏置掃描進一步擴展成像區域
● 掃描過程簡單、快速重建成像，可編程掃描工藝保證批量樣件測試的一致性和便捷性
● 專用算法增強圖像清晰效果，獲得優質圖像質量
技術指標
分辨率
細節分辨率 | 30μm | 0.5 μm |
X射線源
類型 | 閉管 | 開管 | ||
電壓 | 600KV | 500KV/450KV | 300KV | 240KV/225KV |
焦斑尺寸* 0.7mm @0.7kW 2.0mm @1.5kW | 焦斑尺寸* 0.4mm @0.7kW 1.0mm @1.5kW | JIMA 分辨率 3 μm | JIMA 分辨率 2 μm | |
平板探測器**
成像面積 | 427mm×427mm |
像素矩陣 | 3072×3072 |
樣品
可檢測樣品尺寸 | 800mm×1100mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 100Kg |
設備物理參數
設備尺寸 | 3700mm×2300mm×2800mm(長×寬×高) |
設備重量 | 35000kg~60000kg |
可根據需求配置硬件和軟件
焦斑尺寸*: 符合 EN 12543
探測器**: 其他可選尺寸，如400mm×400mm, 302mm×249mm等
